বইয়ের নির্দেশিকা
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
রচনা: লাউং-টারং ওয়াং
এই বই সম্পর্কে
“VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability” by Laung-Terng Wang is a title for readers interested in science. For readers curious about science, this title offers a subject to explore.
বইয়ের বিস্তারিত
- সংস্করণ
- 1st Edition,2011
- ভাষা
- ইংরেজি
- প্রকাশক
- এলজাভিয়ার (ভারত)
- প্রকাশের বছর
- 2011
- ISBN-13
- 9789380501550
পাঠকের মতামত
অন্য পাঠকদের মতামত পড়ুন, অথবা নিজের অভিজ্ঞতা জানান।
এখনো কোনো রেটিং নেই।
আপনার রেটিং পরের পাঠককে বই বেছে নিতে সাহায্য করতে পারে।
আপনার পড়ার অভিজ্ঞতা জানান
বইটিকে রেটিং বা রিভিউ দিতে আপনার গ্রাহক অ্যাকাউন্টে সাইন ইন করুন।
রিভিউ লিখতে লগইন করুনবইয়ের নির্দেশিকায় আরও
একই লেখকের এবং একই বিষয়ের আরও বই।
